测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
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新闻资讯
News时间：07-24 2023 来自：祥宇精密
测长仪是一种高精度的长度测量仪器，常用于机械制造、电子、汽车制造等行业的尺寸测量。那么，测长仪的原理是什么？它的应用领域有哪些？精度又是如何保障的？下面，我们将一一解答这些问题。
一、测长仪的原理
测长仪的原理是利用光学干涉原理，将光束投射到被测物体上，通过测量反射光和干涉条纹的移动距离，得出被测物体的长度。测长仪通常由光源、光路系统、测量系统、数据处理系统等组成。
二、测长仪的应用领域
测长仪在机械制造、电子、汽车制造等领域应用广泛，可以用于测量各种零件的长度、宽度、高度、孔距、轴径等。此外，测长仪还可用于测量微小的尺寸，例如集成电路的尺寸、薄膜厚度的测量等。
三、测长仪的精度保障
测长仪的精度对其测量结果的影响至关重要。为了保障测长仪的精度，需要采取以下措施：
采用高精度的光学干涉原理，减少误差。
使用高质量的元器件，保证仪器的稳定性。
定期进行校准和维护，保持仪器的精度。
使用环境温度、湿度等参数要符合要求，避免外界因素对测量结果的影响。
总之，测长仪是一种高精度的长度测量仪器，其原理是利用光学干涉原理，应用领域广泛，精度保障措施严格。对于需要进行高精度测量的行业，测长仪无疑是一种不可或缺的测量工具。
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